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| 品牌 | 波铭科仪 |
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High sensitivity 高灵敏度
C-V characterization 深能级C-V测试
Capture cross section measurement 俘获界面测试
Optical injection 光注入
Conductance transient measurements 瞬态电导测试
Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基础测试
Cryostats LN2,低温致冷
上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展，上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度，客户遍布全国。我们将继续努力，不断提升市场地位和影响力。
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