膜厚测量系统 FE-3700/5700

简要描述：可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。

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厂商性质：生产厂家
更新时间：2024-09-26
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详细介绍

品牌	OTSUKA/日本大冢

用法

LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass

TFT
SiN / a-Si / 玻璃

有机EL
有机EL / ITO / 玻璃

PDP
介电层/玻璃

上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展，上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度，客户遍布全国。我们将继续努力，不断提升市场地位和影响力。

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