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详细介绍
| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
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QE-2000荧光量子效率测试系统
QE-2000瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域 的杂散光。另采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系的同时，运用其再激发荧光補正的优点，可进行高精度的测量。
高精度测量（zhuan.利：5150939号）：使用低杂散光光谱仪MCPD系列
多次激发补正（zhuan：3287775号、4631080号）：大.程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发, 对粉末和固体测试精度提高明显
使用积分半球（zhuan：4216314号）：是普通积分球测试效率的2倍，更易于样品的装夹，更换简单
多种样品都能对应：粉体、溶液、薄膜、固体等等
可添加温控系统：-30~300℃
QE-2000荧光量子效率测试系统
型号 | 3683C | 311C | 2580C | 3095C | ||||
波长范围 | 360-830nm | 360-1100nm | 250-800nm | 300-950nm | ||||
像元波长宽度 | 1.0nm | 0.5nm | 1.6nm | 0.8nm | 1.2nm | 0.6nm | 1.4nm | 0.7nm |
像元数 | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 |
CCD | 电子冷却式CCD图像传感器 | |||||||
AD转换精度 | 16 bit | |||||||
单色器配置 | F/#=3, f=85.8mm | |||||||
光源 | 150W氙灯 | |||||||
激发波长 | 250-800nm | |||||||
带宽 | FWHM 5nm/slit 0.6mm | |||||||
样品抗光装置 | 自动关闭装置 | |||||||
激发波长控制 | 自动控制 | |||||||
积分球材质 | Spectralon（美国Labsphere公司zhuan.利材料名） | |||||||
尺寸 | 150mm 半球 | |||||||
粉末测试样 品座 | SU304 | |||||||
溶液样品池 | 石英制溶液比色皿 | |||||||
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